1. Built-in test for VLSI
المؤلف: / Paul H. Bardell, William H. McAnny, Jacob Savir
المکتبة: مكتبات الكلية التقنية بجامعة طهران (طهران)
موضوع: Integrated circuits--Very large scale integration - Testing
رده :
TK
7874
.
B374
1987
2. Built-in test for VLSI
المؤلف: / Paul H. Bardell, William H. McAnny, Jacob Savir
المکتبة: مكتبات الكلية التقنية 1 بجامعة طهران (طهران)
موضوع: Integrated circuits--Very large scale integration - Testing
رده :
TK
7874
.
B374
1987
